2025-09-12 组会报告：近期工作进展与总结

2025 年 9 月 12 日组会报告，记录 RoRD-Layout-Recognation 改进、Geo-Layout-Transformer、Siemens EDA Forum 与服务器脚本工作。

西门子 EDA 论坛报告：聚焦 SONR 与 SDPAL 的良率提升实践

西门子 EDA 论坛报告，聚焦 Tessent DDYA、Calibre SONR 与 SDPAL 在半导体良率提升中的 AI/ML 实践。

RoRD 版图适配报告：面向 IC 模板识别的模型调整

基于 AI 的集成电路版图识别开题报告，聚焦 RoRD 技术在 IC 版图分析中的适配、损失函数优化与初步实验。

RoRD 最初报告：面向版图模板识别的 AI 技术路径探索

面向版图模板识别的 AI 技术路径探索，聚焦 RoRD 的旋转鲁棒性与零样本匹配能力。